鎢燈絲掃描電鏡成像平臺(tái)即時(shí)可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實(shí)時(shí)定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導(dǎo)電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對(duì)不導(dǎo)電樣品進(jìn)行更真實(shí)的能譜元素分析。專為快速分析而設(shè)計(jì)，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。
 

　　鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺(tái)上，快速提供所需微觀形貌及實(shí)時(shí)成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準(zhǔn)確執(zhí)行故障分析和缺陷檢測(cè)。通用型SEM系統(tǒng)，可涵蓋多種類型樣品。可分析絕緣材料、處理大而重的樣品，同時(shí)能夠分析常規(guī)的小尺寸樣品。靈活性SEM系統(tǒng)，支持各類功能附件。使用便捷，不依賴于用戶操作水平、能夠便捷提供元素或化學(xué)信息。高度自動(dòng)化，自動(dòng)對(duì)中技術(shù)確保系統(tǒng)始終處于最佳工作狀態(tài)，用戶指南及撤銷功能幫助用戶更輕松操作系統(tǒng)。處理效率高，實(shí)時(shí)定量成分分析成像，更快獲得定量分析數(shù)據(jù)。
 

　　鎢燈絲掃描電鏡可以完成實(shí)時(shí)成分信息，同步掃描獲取多種信號(hào)時(shí)執(zhí)行能譜分析，實(shí)時(shí)檢測(cè)形貌與元素信息；成像平臺(tái)即時(shí)可用，只需關(guān)注數(shù)據(jù)采集，不必憂慮電鏡條件設(shè)置；更快獲得數(shù)據(jù)，多種成像和掃描策略，優(yōu)化圖像采集效果并提升系統(tǒng)處理能力；靈活的樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，全開(kāi)門(mén)式設(shè)計(jì)，大樣品可輕松加載到樣品倉(cāng)內(nèi)，*的成像性能，提供低真空模式和電子束減速模式用于消除荷電效應(yīng)。